Rigaku 自動化多功能 X 射線繞射儀 (XRD) - SmartLab
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產品說明
具引導軟體的自動化多功能 X 射線繞射儀 (XRD) SmartLab
粉末繞射、薄膜計量、小角度X射線散射、in-plane散射、operando測量
XRD 專為提高性能而設計
這種新型 X 射線繞射系統採用 PhotonMax 高通量 9 kW 旋轉陽極 X 射線源,與支援 0D、1D 和 2D 測量模式的 HyPix-3000 高能量分辨率 2D 多維半導體探測器相結合,允許可以用單一偵測器進行處理所有應用,消除了不同應用和切換單一偵測器的不便。 HyPix-3000 偵測器可用於取得 2D 粉末繞射圖案,並可使用所有 2D 圖像資訊對其進行處理以提供卓越的定性分析。該系統採用高分辨率 θ/θ 閉環測角儀驅動系統和可用的in-plane繞射臂。該系統的新型交叉光束光學元件 (CBO) 系列具有全自動可切換反射和穿透元件 (CBO-Auto)。
重新定義功能的 XRD
無論您使用的是薄膜、奈米材料、粉末與液體,SmartLab 都可提供 XRD進行量測。該設備可測量粉末、液體、薄膜甚至紡織品樣品,在適合的樣品條件下進行mapping測量。Rigaku SmartLab Studio II 軟體套件可以進行Operando測量,此軟體套件是一個整合性體平台,包含從測量到分析的所有功能。此系統還具有強大的安全性和驗證協議,以確保任何技術組件(軟體或硬體)在實行監管指南之下,包括21 CFR Part 11,並可定管理電子記錄和電子簽名(ER/ES)的美國EDA 法規。
特點:
粉末繞射、薄膜計量、小角度X射線散射、in-plane散射、operando測量
XRD 專為提高性能而設計
這種新型 X 射線繞射系統採用 PhotonMax 高通量 9 kW 旋轉陽極 X 射線源,與支援 0D、1D 和 2D 測量模式的 HyPix-3000 高能量分辨率 2D 多維半導體探測器相結合,允許可以用單一偵測器進行處理所有應用,消除了不同應用和切換單一偵測器的不便。 HyPix-3000 偵測器可用於取得 2D 粉末繞射圖案,並可使用所有 2D 圖像資訊對其進行處理以提供卓越的定性分析。該系統採用高分辨率 θ/θ 閉環測角儀驅動系統和可用的in-plane繞射臂。該系統的新型交叉光束光學元件 (CBO) 系列具有全自動可切換反射和穿透元件 (CBO-Auto)。
重新定義功能的 XRD
無論您使用的是薄膜、奈米材料、粉末與液體,SmartLab 都可提供 XRD進行量測。該設備可測量粉末、液體、薄膜甚至紡織品樣品,在適合的樣品條件下進行mapping測量。Rigaku SmartLab Studio II 軟體套件可以進行Operando測量,此軟體套件是一個整合性體平台,包含從測量到分析的所有功能。此系統還具有強大的安全性和驗證協議,以確保任何技術組件(軟體或硬體)在實行監管指南之下,包括21 CFR Part 11,並可定管理電子記錄和電子簽名(ER/ES)的美國EDA 法規。
特點:
- 可調整in-plane內臂(5 軸測角儀)
- 高通量 X 射線源:PhotonMax
- HyPix-3000 高能量解析度 2D HPAD 偵測器
- 全新 CBO 系列,CBO-Auto具有全自動光束可切換
- 全新CBO系列,CBO-μ微小區域具有高解析度
- 使用 SmartLab Studio II 軟體進行操作測量
- 組件多年保固有助於降低擁有成本
Specifications
Product name | SmartLab |
Technique | X-ray diffraction (XRD) |
Benefit | Powder diffraction, thin film, SAXS, in-plane scattering, operando measurements |
Technology | Automated high-resolution θ-θ multipurpose X-ray diffractometer (XRD) with expert system Guidance software |
Core attributes | 3 kW sealed X-ray tube, CBO optics, D/teX Ultra 250 silicon strip detector |
Core options | PhotonMax high-flux 9 kW rotating anode X-ray source, in-plane arm (5-axis goniometer), HyPix-3000 high energy resolution 2D HPAD detector, Johansson Kα₁ optics |
Computer | External PC, MS Windows® OS, SmartLab Studio II software |
Core dimensions | 1300 (W) x 1880 (H) x 1300 (D) mm |
Mass (core unit) | Approx. 750 kg (sealed tube) , 850 kg (rotating anode) |
Power requirements | 3Ø, 200 V 50/60 Hz, 30 A (sealed tube) or 60 A (rotating anode) |
SmartLab 規格
Specifications
Product name | SmartLab |
Technique | X-ray diffraction (XRD) |
Benefit | Powder diffraction, thin film, SAXS, in-plane scattering, operando measurements |
Technology | Automated high-resolution θ-θ multipurpose X-ray diffractometer (XRD) with expert system Guidance software |
Core attributes | 3 kW sealed X-ray tube, CBO optics, D/teX Ultra 250 silicon strip detector |
Core options | PhotonMax high-flux 9 kW rotating anode X-ray source, in-plane arm (5-axis goniometer), HyPix-3000 high energy resolution 2D HPAD detector, Johansson Kα₁ optics |
Computer | External PC, MS Windows® OS, SmartLab Studio II software |
Core dimensions | 1300 (W) x 1880 (H) x 1300 (D) mm |
Mass (core unit) | Approx. 750 kg (sealed tube) , 850 kg (rotating anode) |
Power requirements | 3Ø, 200 V 50/60 Hz, 30 A (sealed tube) or 60 A (rotating anode) |