HITACHI 熱場式場發射掃描電子顯微鏡 SU5000
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產品說明
熱場式場發射掃描電子顯微鏡 SU5000
創新的分析型FE-SEM允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。 它操作的簡易性為材料研究，開發開啟了新的門戶。
特點
創新的分析型FE-SEM允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。 它操作的簡易性為材料研究，開發開啟了新的門戶。
特點
- EM Wizard是一款革命性的使用介面，可為所有用戶提供最佳的分辨率，再現性和產出率。 借助 EM Wizard，初學者可以在一夜之間成為專家。
- 自動軸調整技術（自動校準）可根據需要將顯微鏡恢復到“最佳狀態”。
- 樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80 mmH）。
- 快速的樣品交換與真空系統，可在3分鐘以內完成樣品交換並進行觀察。
- 互動式指南提供“挑選”SEM模式，以確保最佳的操作條件。
- 使用 3D MultiFinder工具，樣品可以輕鬆傾斜和旋轉，影像依然保持居中和聚焦。