Rigaku 桌上型粉末 X 射線繞射 (XRD) 儀器 - MiniFlex
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產品說明
桌上型粉末 X 射線繞射 (XRD) 儀器 MiniFlex
用於材料分析的桌上型 X 射線繞射儀
新型第六代MiniFlex 桌上型X 射線繞射儀是一種多用途粉末繞射分析儀器，可測定：晶相鑑定（相ID）與定量、結晶度百分比(%)、微晶尺寸與應變、晶格參數細化、Rietveld refinement和分子結構。它廣泛應用於研究，特別是材料科學和化學，相關產業的研究和品質控制。
使用 HPAD 偵測器進行 X 射線粉末繞射
MiniFlex XRD 系統透過創新技術進步提供速度和靈敏度，包括 HyPix-400 MF 2D 混合像素陣列偵測器 (HPAD) 以及可用的 600 W X 射線源和新型 8 樣品自動進樣器。
特點：
測量：
選配：
用於材料分析的桌上型 X 射線繞射儀
新型第六代MiniFlex 桌上型X 射線繞射儀是一種多用途粉末繞射分析儀器，可測定：晶相鑑定（相ID）與定量、結晶度百分比(%)、微晶尺寸與應變、晶格參數細化、Rietveld refinement和分子結構。它廣泛應用於研究，特別是材料科學和化學，相關產業的研究和品質控制。
使用 HPAD 偵測器進行 X 射線粉末繞射
MiniFlex XRD 系統透過創新技術進步提供速度和靈敏度，包括 HyPix-400 MF 2D 混合像素陣列偵測器 (HPAD) 以及可用的 600 W X 射線源和新型 8 樣品自動進樣器。
特點：
- 全新第六代設計
- 緊湊、無輻射外洩的安全外殼
- 入射光束可變狹縫
- 簡易的安裝和使用者培訓
- 由出廠校準完成之測角儀系統
- 筆記型電腦即可操作
測量：
- 相鑑別
- 相位定量（相位 ID）
- 結晶度百分比 (%)
- 晶粒尺寸和應變
- Lattice parameter refinement
- Rietveld refinement
- 分子結構
選配：
- 8樣品自動進樣器
- 石墨單分光器
- D/tex Ultra：silicon strip檢測器
- HyPix-400 MF：2D HPAD 偵測器
- 空氣敏感樣品座
- 攜行箱
MiniFlex 規格
Specifications
| Product name | MiniFlex |
| Technique | X-ray diffraction (XRD) |
| Benefit | Phase analysis of poly-crystalline materials |
| Technology | Benchtop X-ray diffractometer with advanced detector |
| Core attributes | 600 W X-ray tube, D/teX Ultra silicon strip detector, accepts unusual samples, tabletop form factor |
| Core options | 8-position autosampler, HyPix-400 MF (2D HPAD) detector, graphite monochromator, air sensitive sample holder,ShapeFlex sample holder |
| Computer | External PC, MS Windows® OS, SmartLab Studio-II software |
| Core dimensions | 620 (W) x 722 (H) x 460 (D) mm |
| Mass | 80 kg (core unit) |
| Power requirements | 1Ø, 100-240 V 50/60 Hz |