HITACHI 掃描式電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
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產品說明
FlexSEM 掃描式電子顯微鏡採用全新設計的電子光學和偵測系統，提供了無與倫比的成像和分析性能。
為了保持效率，FlexSEM 具有適應性強，可分離和簡潔的設計，可以安裝在有限的辦公室，實驗室甚至移動裝置空間中。
特點
為了保持效率，FlexSEM 具有適應性強，可分離和簡潔的設計，可以安裝在有限的辦公室，實驗室甚至移動裝置空間中。
特點
- 先進簡潔的設計，面寬僅 450mm，大幅節省設置空間
- 靈活配置方式，可選擇落地式安裝，或是分離主機與電源供應部設置於桌面
- 利用高感度二次電子偵測器、背相散射電子偵測器與低真空偵測器(UVD-選配)，實現低加速電壓/低真空下高品質影像觀測
- 操作便捷，即使新手也能拍出高品質影像
- 新開發的 SEM MPA 導航功能，便於快速搜尋觀察區域
- 可選配大面積 EDS(30mm2 )，便於快速分析元素成分